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正文:

自动双折射显微镜原理

1、测试原理：

利用光的偏振特性对晶体、纤维等有双折射的物质进行观察研究的仪器。其成像
原理与一般显微镜相似，不同之处在于光路中加入两组偏振器（起偏器和检偏器）。
由光源发出的自然光经起偏器变成线偏振光后，照射到高分子晶体样品，由于晶体的
双折射现象，这束光被分解成为振动方向相互垂直的两束线偏振光。这两束偏振光不
能完全通过检偏器，只有其中平行检偏器方向的分量才能通过。通过检偏器的这两束
光的分量具有相同的振动方向与频率而产生干涉效应· 由干涉色的级序可以测定晶体薄
片的厚度和双折率等参数。

2、 操作说明：
1 ．开机→ mo le
2 ．选择Retardation
3 ．装上偏光镜头（二个）
4 ．调整偏光角度到OO ← → 0。 （下面）
5 ．选译referance → yes
6 ．调整镜头距离，使monitor 值达MAX
7 ．选译0.K .
8 ．调整偏光角度到0。← → 90 "
9 ．放上sample 并使呈45。
10 ．调整焦距，并使sample 保持中央小框内
11 ．选择measure → O.K. → 结果
12 ．取不同点平均
13 ．到 File → Print

注意事项：

3、

IF no data，Maybe :
(1）光线
(2) sample 未置镜头内中央
(3) sample 未呈45。
(4）调整敏感度
(5）调整焦距