PEM-故障分析时最常用的电性定位仪器！搭配显微镜侦测缺陷波段！-北京上光仪器有限公司

标题：PEM-故障分析时最常用的电性定位仪器！搭配显微镜侦测缺陷波段！

收藏到：

点击查看产品参数和报价--丨--

---

正文:

PEM-故障分析时最常用的电性定位仪器！搭配显微镜侦测缺陷波段！

PEM是IC Design House自行做故障分析时最常用的电性定位仪器，

它的原理简单的说就是利用一个显微镜配上一个光的感测器(Detector)来侦测因为缺陷所产生特定波段的光，

并把光点和之前撷取的晶片影像叠加(superimposition)起来，以达到缺陷处定位的目的

出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科

特别声明：本文出自北京上光仪器有限公司-未经允许请勿转载，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/2940.html 　
　　北京地区金相显微镜专业的供应商