标题：三维显微镜的参数是以二维图像上的测量
信息分类:站内新闻
作者:yiyi发布
时间:2015-1-1 19:29:46
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正文:
三维结构的参数是以二维图像上的测量及计数的数据为基础
的。二维图像上的测量包括面积与曲线长，二维图像上的计数，
主要是颗粒截面的计数。
假如二维图像上有一个完整的细胞截面，其中包含一个细胞
核的截面，形状很不规则，如何测量这两个截面的面积?从原则
上讲,有面分析、线分析、点分析三种方法。
面分析法
如果有求积仪或图像分析系统，只要用触笔在被测而积周界
上走一趟，就可以得到面积的数值。
如果只要细胞核与细胞两个截面面积的比值，则可以用简便
的方法求出。
在二维图像上数颗粒的数目，要求先确定侧试面积，在此面
积之内计数。
首先在底片或照片上划定测试面积，通常为长方形。由于顾
粒截面有可能压在边线上，在计数时必须遵循一定的原则。
细胞及其各种形态结构成分的形状往往是不规则的，要确定
它们体积是不很容易的。只有对于形状比较规则的结构，才较容
易直接测算它们的体积。
出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科