标题：制造的器件中故障的测试检测工业显微镜
信息分类:站内新闻
作者:yiyi发布
时间:2017-6-24 2:08:12
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正文:
制造的器件中故障的测试检测工业显微镜
通常来说，对于组合电路以及全扫描电路，为检测固定型故障
的测试都是单向量测试。为单固定型故障的测试的生成方法已经被
研究超过五十年并且广泛应用于产业中并成为测试套件的一部分。
随着设计的特征尺寸的减小，应用针对新增故障模型的测试变得尤
为重要。
不是所有这类制造的器件中的缺陷都能被知晓，它们可能数量
众多而不能通过生成测试来确切进行锁定。例如，如果假设电路中
的每一对节点都能够形成一个桥接缺陷，那么能够产生的桥接缺陷
的总数量将会是非常庞大的。即使将与实际接近的条件赋予遭受桥
接缺陷的节点对上，桥接型缺陷的数量也会很大。
一些缺陷会引起信号传播延迟的增加，例如电阻性开路、弱晶
体管以及低阻桥。工艺参数的变化也会引起信号传播延迟高于标称
值。增加信号传播延迟的事件被建模称为延迟故障。已经提出了几
个延迟故障模型。在本章以及后续章节中，延迟故障会被广泛讨论
。增加的信号传播延迟可能发生在一个逻辑门上或数个逻辑门上。
出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科