标题：工艺制造高质量部件焊接熔深分析显微镜
信息分类:站内新闻
作者:yiyi发布
时间:2017-6-24 2:08:24
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正文:
工艺制造高质量部件焊接熔深分析显微镜
对于使用先进工艺制造并被设计成工作在高频条件下的器件，小延
迟缺陷测试是获得高质量部件所必需的。在本章中，研究了测量SD
D的测试覆盖率的覆盖率指标的课题，严格地检验了之前所提出的S
DD覆盖率指标，并总结出它们不能满足现实中的所有需求以及准确
地测试覆盖率度量。提出新的测量sDD测试覆盖率的指标，它解决
了之前所提指标的缺点。解释了新指标背后的原理，并针对几种学
术界和工业界的标准电路给出了实验的结果。还比较了两种sDD测
试策略在提高测试的SDD覆盖率方面的有效性，也就是时序敏感ATP
G和超速测试。
有关多种故障模型、测试方法以及可测性设计(DfL)技术的基本
概念，并对过渡故障测试(发射传递(1aunch on shift)和发射捕获
(1aunchon capture)]以及测试模式生成(健壮性和非健壮性)做了
一次详尽的叙述。这个叙述对理解过渡故障模式是如何帮助检测小
延迟缺陷来说是必不可少的。接下来，确定了针对现代先进的工艺
中的小延迟缺陷特殊测试的需求。
出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科