标题:光学显微镜三维图像重构原理-不同焦平面测量

信息分类:站内新闻   作者:yiyi发布   时间:2016-11-28 17:15:49 将本页加入收藏

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正文:

光学显微镜三维图像重构原理-不同焦平面测量


显微镜在不同焦平面的测量方法

    显微镜不同焦平面的标定方法

  在显微镜的条件下,由于观察表面的对象比较小,往往很难对物体
表面进行操作,因此不同焦平面的测量试验方法都采用球磨粒作为试验
对象。

    球磨粒比较容易制作和采集,在显微镜条件下也比较容易放置。
如果采用其他形貌的磨粒,则不容易放置在比较理想的位置。为了对磨
粒的直径进行标定,采用标准测量光栅。首先将光栅放到显微镜下,通
过CCD采集光栅的图片


    光学显微镜三维图像重构原理分析
  

  物体表面高低不平导致了物体表面有些区域在焦平面内,

  在焦平面范围内,图像的亮度变化比较大;在焦平面外的亮度变化
比较小。反映在信号的层面上,在焦平面的范围内,高频信号变化幅值
比较强;在焦平面外,高频信号变化幅值比较弱。











出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科
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