点击查看产品参数和报价--丨--
---
---
---
正文:
如果巳知所形成的薄层的性质,就可以较正确地解释作用
机理。检验由极压添加剂形成的薄层所用的方法有:放射性示踪
法、基本x射线
荧光分析法、电子显微探针分析法、电子衍射
法、化学分析法和最新的光电子谱分析法
放射性示踪法所用的添加剂中有一种活性元素是示踪物
这种方法虽然灵敏度高,但只能判断表面上是否存在
示踪物,而不能提供关于薄层化学结构的任何信息。用各种不同
的原子依次示踪,可以获得关于薄层性质的数据。
由于有用的产物很少,因此初步分析时应使用敏感的方法,
以提供关于薄层化学结构方面的信息。将薄层中和添加剂中的元
素的相对含量加以比较,可以获得初始的迹象。元素的相对含量
相同,表明薄层是由于吸附而形成的,含量百分比改变则表明发
生了反应.
反应性和有效性的关系
若极压添加剂和抗磨损添加剂的有效性是由于相接触的金属
表面上形成了反应层所致,就可以假定有效性与反应性之间存在
着直接的关系:但是应当控制添加剂的反应性,使金属表面与添加
剂之间的反应只发生在摩擦表面上。反应性过高会引起腐蚀,而
反应性低又会妨碍在摩擦副表面上形成和维持一层保护层,因为
在接触中存在薄层,是形成过程与磨损过程平衡的结果。
出自http://www.bjsgyq.com/
北京显微镜百科