标题:电陶瓷材料制备鉴定珠光体中铁素体和碳化物

信息分类:站内新闻   作者:yiyi发布   时间:2015-6-19 19:35:22 将本页加入收藏

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正文:

电陶瓷材料制备鉴定珠光体中铁素体和碳化物

不同分析手段测得缝果的比较

    由于用STM研究合金的组织结构方面的工作尚处于
探索阶段,故STM观察的结果必须与其它分析测试手段
    (如金相显微镜、扫描电子显微镜等)的观察结果相比较,并
    由此获得有关组织结构真实信息.

影响扫描隧道显微镜图象质量的因素很多,其中最重
要的是扫描隧道显微镜的扫描范围和分辨率,这两个因素
又是相互矛盾的.扫描范围太小,可供观察的视场太窄,无
法与金相显微镜和扫描电镜图象衔接,也无法看到贝氏体
的全貌;但扫描范围过大,则分辨率下降,达不到观察试样
表面精细结构的目的.为此,考虑到现有压电陶瓷材料制备
的工艺可行性

关于实验中所观测到超亚结构单元的物理解释,由于
样品表面经过浸蚀,因而可认为,这种微起伏实际上反映了
在亚单元内存在的各类微观缺陷,超亚单元之间的凹处可
能是微观界面,或其它规则排列的线或面缺陷,如位错、层
错、孪晶等.对此还需做更深入的研究.

    除贝氏体铁素体外,用STM首次观察到有色合金贝
氏体组织中也存在亚单元结构.为测得亚单元的起伏大小
众所周知,采用适当的浸蚀剂,可显示珠光体的层片状
特征,其原理在于浸蚀剂一般优先腐蚀两相界面(此处能量
较高),但采用一般的金相分析方法,很难鉴定珠光体中铁
素体和碳化物的腐蚀难易程度.采用传统的分析方法研究
本文实验用合金时,也面临同样问题.由于贝氏体铁素体内
部存在大量缺陷,如亚片条间界面、亚单元间界面及超哑单
元间界面等,因而导致铁素体容易腐蚀.若此时仪器的分辨
率较低,则很容易得出如下错误的结论,即铁素体的耐蚀性
能劣于奥氏体.











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