标题:印制电路板的外观及晶元微观缺陷检测金相显微镜

信息分类:站内新闻   作者:yiyi发布   时间:2015-7-22 14:24:42 将本页加入收藏

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正文:

印制电路板的外观及晶元微观缺陷检测金相显微镜

印制电路板的外观检查

印制电路板是应用于所有
电气产品的重要元件.特别是以计算机用的印制电路板为代表,
最近以来更是向高度集成化发展,因此即使是微小的伤痕或图形
缺陷都被看作是个问题.大部分印制电路板的缺陷是由微小的伤
痕组成的.因此通过从正常的圈形中只检测出微小图形的方法,
就可以检测出大部分的缺陷.为了识别出微小的伤痕,采取了一
种方法:它从可能含有伤痕的图形(输入网形)中制作成,可看
作是不含伤痕的所谓准正常图形,并将它与输入图形相比较,则
不相同的部分即被认为是伤痕.
用物镜放大干板图形.光电元件使用光电传感器阵列.它
将128个25μm×25μm的光敏单元沿纵向排列着,是测量一条线上
光强分布的光电转换半导体元件.玻璃干板沿X方向往复运动,
灯泡、照明聚光镜、物镜、光电元件阵列成为一体沿y方向以一
定的间距间断地送进.通过这种方法可检测出整个干板图案.为
了检查被测图形,采用下列的检查法。
    (1)测定图形的宽度、长度以及中心线的偏移量.
    (2)提取lOμm以上的微小伤痕.
    (3)图形全面缺陷的检查.











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