标题：钨的晶粒粗大晶界与晶面的截面金相分析显微镜
信息分类:站内新闻
作者:yiyi发布
时间:2015-2-9 17:21:41
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正文:
在接点面上发生放电时，通常在接点面上生成不附着的
粉末状氧化物和咐着的膜状氧化物。而放电往往发生在晶界，
粉状氧化物是由电压在晶界放电产生的，附着在接点面
上的膜状氧化物则是由电流在晶面放电产生的。这点很容易
迈过以下实验结果得知。
因为钨的晶粒粗大，晶界与晶面的性质差别明显，故对
确认上述现象是有利的。对钨来说，如果在晶界发生放电，
就会以该处为中心沿着晶界产生一些小裂纹。然后放电很容易
沿着这些裂纹发生。对于这一现象通过普通光学显微镜很容易
观察到。
另外，其他材料例如银也可用以下实验得到确认。
这是因为烧结金属与铸造金属的本质差别在于前者的多
孔性质，而其他金属性质却完全没有本质上的差别.用熔化
法制造时品界物质的大部分是由固体构成的，一而在烧结金属
的晶界物质中含气体多.
另外，铸造金属的固体晶界物质通常是由具有很大结合
力的化合物组成，但这些化合物与晶粒之间的结合力一般比
较弱，而这种薄弱性在外观上主要表现为晶粒脆弱，但这种
晶粒脆弱性采用烧结法可以去除.
因此熔化法的接点在放电时，晶界物质与晶粒之间结合
薄弱部分比晶界物质的破坏大，晶界物质破坏所生成的扮末
状氧化物少。并且在低电压电路中，由于感应在接点间产生
的高电压比通过接点问的电流对损耗的影响大
出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科