标题：球形支点可减少因微粒引起误差-测微显微镜
信息分类:站内新闻
作者:yiyi发布
时间:2014-8-17 6:49:29
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正文:
球形支点可减少因微粒引起误差-测微显微镜
常用的手动测微计可直接读至千分之一英寸，如装有微调可
读至万分之一英寸.虽然这些仪器有不足之处，但仍适用于测量
薄片的厚度.它们有二个主要缺陷:一是可能弄断易碎的切片，
二是承物板(直径一般近似于1/4英寸)上面的灰尘或砂粒也可能算
入测量的厚度中，改用球形支点可减少因微粒引起的问题(但因减
小了接触面积却增加了机械损伤样品的可能性).
一个较好的办法是把度盘式指示表装在一个平坦工作台面
上，台上有一个对准指示表的小球形突出物，球型触点只突
出台面几个密耳，这样对于一般尺寸的切片，由于薄片不垂
直于仪器中心线所产生的误差便可以略而不计.度盘式指示
表为了放大读数装有齿轮组并且是弹簧承载的，不过这种
仪器上的负载通常比手动测微计小.
出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科