金相显微镜检测高质量横截面晶粒结构-北京上光仪器有限公司

标题：金相显微镜检测高质量横截面晶粒结构

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金相显微镜检测高质量横截面晶粒结构

金相学的检查

检查导体的晶粒结构时，获得高质量横截面的步骤。

样品的制备山下列5个步骤组成:切片，安装，研磨，抛光，蚀刻.

导体变色是由热暴露引起的，并且是被氧化和镀覆材料被吸收到铜中的结果。

在稍高的温度下、甚至在发生明显的热损坏之前，便可看到导线上特有的颜色变化。

虽然颜色的变化本身不重要，但在最初的目视检查时，它们却能为调查人员提供一些有

用的线索。在空难案例的“后碰撞型火灾”中，各种化学混合物的存在能促使导体变

出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科

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