标题：金相试样的截取截面分析用专业图像显微镜
信息分类:站内新闻
作者:yiyi发布
时间:2014-5-30 17:16:38
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正文:
金相试样的截取部位必须具有一定的代表性，首先应考虑观察表面和取向问
题。一般来说，金属和合金都存在不同程度的各向异性，纵横方向常出现组织形
态的差异。对一个零件来说，截取横截面作金相分析时，主要观察其表面和中心
组织的差别、表层缺陷和表面处理工艺结果等;截取纵截面则主要对非金属夹杂
物、晶粒的变形程度和带状组织等进行分析。对一些零件作热处理质量检验时，
必须考虑零件的不同部位和热处理工艺之间的关系。
截取金相试样的方法很多，方法和种类的选用
则视零件的大小、性质、材质和热处理工艺等具体条件而定，但截取时必须保证
试样观察面的组织不受到影响。例如:切割试样的表面常常会形成变形层，这种
变形层必须在后续的制备工序中将它去掉，或减小到不影响分析结果的程度。
把光的干涉原理和显微镜分析结合起来而设计成的显微镜称为干涉显微镜。
干涉显微分析能显示试样表面的微小高度变化，故主要用于观察表面的微观几何
外形，特别适用于塑性变形后金属表面变形区的分析。
出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科