标题：金属截面分析用工具显微镜-微观结构分析仪器
信息分类:站内新闻
作者:yiyi发布
时间:2014-5-31 1:37:36
将本页加入收藏
下一篇：金相显微分析软件-金属试样的截面分析显微镜
上一篇：金相试样的截取截面分析用专业图像显微镜
点击查看产品参数和报价--丨--
---
---
---
正文:
需要强调的是断口的微观分析必须与宏观分析相结合，才能做出准确的分析与判断，
它是在正确的宏观断口分析的指导下进行的。此外，微观断口分析时，必须具有统计观
点，在大面积范围观察的基础上，选择有代表性的断口拍照，真实反映断裂的类型和断裂
机理。
断口微观分析的主要工具是透射电子显微镜(TEM)和扫描电子显微镜(SEM )。与光
学显微镜相比，TEM大大改善了清晰度与视场深度，其缺点是试样制备复杂(需制复型或
薄试样)，可观察的范围很小。SEM则可以采用相当大的试样，在相当大的区域直接进行
观察;对太大的机件，也可制备表面复型样品在SEM上观察。
SEM是断口微观分析中常用的仪器，其分辨率一般可达10nm，具有很大的景深，可直
接观察粗糙的表面。它可从低倍(10倍)到高倍(几万倍)连续变化观察断口表面。断口
的微观分析中要特别注意电镜照片的代表性和真实性。由于金属微观结构的复杂性，材
料的不均匀性、受力的不均匀性以及环境因素的不均匀性等原因造成断口微观形貌错综
复杂。例如，局部解理存在于大量的韧窝断口之中，个别局部穿晶断裂出现在总体为沿晶
断裂的断面上。因此在进行微观断口分析时，要有统计观点，在众多视场大面积观察的基
础上判定主体的局部的特征，从中选出代表性的照片。在复型样品的观察中要注意鉴别
由于实验技能、设备等原因产生的假象，获得真实的微观形貌。
对断裂面的微观结构进行分析，是探讨材料的断裂性质和断裂机理的实验基础。
断口的结晶学分析可以分析解理断裂、准解理断裂、沿晶断裂和沿惯析面断裂过程的本
质。
出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科