标题:在TEM电子显微镜下观察能有明显的对比需要染色

信息分类:站内新闻   作者:yiyi发布   时间:2013-2-16 2:09:48 将本页加入收藏

下一篇:穿透式电子显微镜适用于研究材料内部形态构造       上一篇:非球面镜的设计在微光学领域非常的广泛-金相显微镜物镜

收藏到:

点击查看产品参数和报价--丨--

--- --- ---

正文:

在TEM电子显微镜下观察能有明显的对比需要染色

超薄切片

当样品準备好,即可以钻石刀进行超薄切片,由于需要在 PU 的
软质段 Tg 点以下进行切片,故必须要采用低温设备,试片温度设在-
1250C,钻石刀温度亦设在-1250C,将试片切成厚度约为 40nm,将得
到的薄片置于 300-mesh 的铜网上


染色
为了增强其对比,以便在 TEM 观察下能有明显的对比,因此需要
进行染色步骤。在一密闭烧杯中置入 OsO4(ag) (from a 4% solution),
将铜网置于其内,利用蒸汽染色法将 Os 键结在 HTPB 未饱和碳键上(图
3-2),可藉此加强软硬质段的对比,染色时间为 24 小时,染色后便
可以穿透式电子显微镜(TEM)观察其形态分佈

穿透式电子显微镜(TEM)观察
加速电压为 160keV,分别做 50000X,80000X,100000X,150000X
等不同的倍率观察 PU 的形态变化










出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科
特别声明:本文出自北京上光仪器有限公司-未经允许请勿转载,本文地址:http://www.bjsgyq.com/news/3955.html  
  北京地区金相显微镜专业的供应商

合作伙伴:

友情链接:显微镜工业投影仪,轮廓投影仪,测量投影仪油品清洁度分析系统表面粗糙度阿贝折射仪金相抛光机