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正文:

SPM的缺点就是不能应用在高度差距过大的试片上，接触式的探针虽然有较高的解析度，
但极易耗损，另外SPM只能观察物体的表面形貌，无法像电子显微镜那样可以穿透到试片里，
获取试片内部讯息，但不管如何，SPM在纳米上的广泛应用已逐渐使其深受重用，

出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科