标题:光学器件激光调制技术-全视场测距成像分析

信息分类:站内新闻   作者:yiyi发布   时间:2017-6-26 20:54:10 将本页加入收藏

下一篇:机械磨损、金属磨损、抛光磨损金相分析       上一篇:图像质量焦平面混合像素产生相同结果-光学成像

收藏到:

点击查看产品参数和报价--丨--

--- --- ---

正文:

光学器件激光调制技术-全视场测距成像分析

虽然混合像素相对比较易于理解,同时也能够很容易地从距离测量
图像中消除,但是多路径干扰问题仍然未能从根本上得以解决。目
前,通过反卷积技术的使用,能够有效补偿相机内部散射效应,但
是,场景内部散射问题仍面临着巨大挑战。就未来发展而言,场景
结构模型的探索虽然能够引起广泛的研究兴趣,但是从本质上来讲
,这种方法有其局限性。从相机视场外部的光散射进入像素是非常
容易的。也许更有用的潜在革新之一将是确定扰动程度的可靠方法
,因此,要为任何测量的真实数据确定准确的界限。
    有效而实用的场景内部多路径补偿可能需要使用更先进的调制
技术,能够同时获得多个频率的测量结果。最终,随着技术的改进
提高,频率调制连续波和距离选通技术可能是最好的选择,与雷达
技术的发展过程很相似。当前尽管声称精度很高,但是全视场幅值
调制连续波激光雷达系统仍然会在本质上受到精度的限制,为了获
得可靠的实验测量结果,实验人员必须认识到这种技术的基本限制
,这是非常重要。

  混合像素和多路径干扰的认识和理解
    激光雷达调制技术
    与混合像素问题相比,多路径干扰是一个更普遍的术语,在更
广泛的条件下也包括场景内部反射。例如,当对房间的角落成像时
,通常情况下光会发生多次反射,从而对距离测量数据产生较大模
糊影响。多路径干扰还会由于全视场测距成像中光学器件本身的反
射而产生,从而产生测量之间的串扰。











出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科
特别声明:本文出自北京上光仪器有限公司-未经允许请勿转载,本文地址:http://www.bjsgyq.com/news/9970.html  
  北京地区金相显微镜专业的供应商

合作伙伴:

友情链接:显微镜工业投影仪,轮廓投影仪,测量投影仪油品清洁度分析系统表面粗糙度阿贝折射仪金相抛光机