显微镜,金相显微镜,生物显微镜,北京地区专业供应商

点击查看产品参数和报价--丨--

正文:

非接触式深度量测显微镜系统   订购电话：010-64034191   咨询电话：84021761


X、Y、Z 三轴精密量测，Z轴量测精度可达±1μm， 光学非接触式，可避免破坏待测物，广泛应用于IC封装、机械产业及学术研究机构等需要高精度三次元量测之应用， 可依客户需求，搭配量测软体及其他配件。
 
高精确非接触式深度量测，在观测量测点的表面，以非常简单的方式操作，降低人为误差。
Hisomet 是非接触式深度量测显微镜系统。
根据光学的焦点探知系统而设计。
藉由简单的重叠对焦符号採取精确的对焦指示符号，可测量高度、深度、距离…等，和观察量测点的表面。
因为有非接触式系统，因此不需担心物质的损坏如样品变形、刮伤、刻痕， Hisomet 是最理想的在量测电子零件如 ICs 或高精度加工零件。

特性:

‧工具显微镜Z 轴量测超高精度±1μm
‧显微镜的Z 轴光学式辅助对焦符号，大幅降低人眼误差。
‧显微镜的两种不同的对焦符号，可任意切换。