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正文:
对形变试样剖面法及显微电子断口分析在研究断裂行为时的应用
进行了评述。这两种方法是完全协调的,而且可用于直接鉴定控制某
一断裂过程的显微组织特征。剖面法也有助于鉴定断口学的特征。为
了观察控制断裂过程的显微组织,最适宜的试验方法是采用试样的金
相磨片研究。为使效果更好些,其磨片应在尚未断裂但经不同形变度
的试样上截取。如果只研究已断裂试样,则对于在早期的形变过程发
生的对断裂极为关键的事件的观察就会被掩盖过去。
例如,在研究钢、铝合金及钛合金的断裂机理时,把光学显微镜
与透射电镜的
金相观察,以及定量显微分析和微区探针分析法等同剖
面法配合使用时,可清楚说明上述方法所能获得的各种有用的资料。
使用这种研究方法的目的,主要是为改善材料的断裂韧性提供依据,
但是为了理解与断裂有关的其它问题,如研究应力腐蚀开裂、持久负
荷下的裂纹生长或蠕变断裂时,将剖面术与断口分析配合使用是有益
的。在许多研究中,特别是在研制新合金与新产品中,作这种试验工
作是很省时间的,作少量试样磨片研究就可以显示出对某一性质起决
定作用的显微组织特征。从而可免去大部分昂贵的工艺试验和力学性
能试验程序。
出自http://www.bjsgyq.com/
北京显微镜百科