标题：杂质截面晶粒间显微构造分析图像显微镜厂商
信息分类:站内新闻
作者:yiyi发布
时间:2015-12-18 17:18:55
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正文:
杂质截面晶粒间显微构造分析图像显微镜厂商
杂质与粒界的分离
如果有一个凝集态的杂质，进入向前推进的晶粒间之中，这种杂
质对前进粒界的作用，大致可以分为下列三种情况：
1、杂质跟随粒界前进，这可能有两种方式的基本动作，基一，
当基质质点跃过界面时，杂质质点也作相似的跃进，故杂质将 一
直存在于粒界之中，这种基本动能，不一定会给前进粒界予很大的
阻力，其二。杂质质点不易跃迁，只是当基质跃迁过程中，出现凸
面的掏空和凹面挤压时，才迫使杂质跟随粒界前进，因为杂质存在
于界面，比存在于体内，物系的自由能要小些，这种杂质推进，必
然给前进粒界予一定的拖阻力，使粒界的前进速度下降。
2、粒界甩开杂质前进，就是说前进的粒界有较大的势头，杂质
还没有来得及跟随粒界移动，粒界已经脱离杂质前去，在这一瞬间
，物系必然要增加相应于杂质截面的界面能，或者说前进的粒界必
须具有某一临界力，才能从粒界处挣脱开来，这一临界力与杂质大
小、界面能和界面曲率有关，稍后一点我们将要作进一步的推算。
3、杂质将前进着的粒界拖住，这时界面将停止前进，相对稳定
下来，其具体情况可能是杂质分量较多或呈偏平形，占去较多的界
面 ；杂质本身结合能较大，在烧结温度之下难于分散和扩散；界
面曲率太小，难于给出临界力，故既不能带动杂质前进，又不能挣
脱杂质而去，只好相对稳定地停止下来。
出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科