标题：电子陶瓷中晶粒的平均粒径测量多功能图像显微镜
信息分类:站内新闻
作者:yiyi发布
时间:2015-12-19 15:58:13
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正文:
二次晶粒长大与气孔的陷入
在一般的电子陶瓷中二次粒长是屡见不鲜的，其粒长速度，与坯
料粉粒的细度有明显的关系，通常可以得到如图3-31所示的规律性
，即粉料径越细，二次粒长速度越大，最终的二次粒径也越大，粉
料粒径愈粗，二次粒长速度愈慢，则二次粒长所生长的粗粒最终粒
径，比细燃料时还要小，从图3-31中可以看出，当初始粒径达60微
米，而当初始粒径为10微米，最终粒径却不到50微米，出现象曾经
使人困惑不解，但当你知道二次粒长的机制之后，则对这种现象就
不会奇怪了，因为粉料的初粒愈强，一次晶粒的平均粒径较小，出
现偶然粗粒的可能性也较大，故使二次晶粒成核容易，恒速长大时
的粒长速度也大，故极易长大型二次晶粒，当粉料的初粒径较大时
，则正好相反，一次晶粒的平均粒径较大，后期恒速长大时的速度
也较慢，故形成的二次晶粒也就比较小，所以坯料粉料愈细，愈要
注意防止二次粒长的发生。
在二次粒长的过程中，有时也会出现非常平直的界面，表面张力
，粒界平衡的情况是不大一致的，这种平直粒界几乎全都出现在烧
结过程中存在少量液相、且又能完全润湿和包裹晶粒表面的场合，
特大晶粒所暴露的外面的，是其自身晶系中，质点排列最密集、表
面自由能最低的表面，故在通过液相作用的溶入-析出过程中，将
有大量质点在这种自由能最低的表面上定居，而和它相邻的小晶粒
或尖凸粒面，将大量的溶入液相之中，其结果必然使大量的液-固
界面消失，使物系自由能显著降低，由于少量液相的阻隔，故相邻
小粒和粒界取向或曲率、外形，对平直界面都失去了约束作用，不
能影响其表面的构型，在与这种巨大平面相润湿的液膜中，基质的
浓度、或其溶入析出过程不见得到处都能均匀一致，但为了要保持
平面的连续推进，故在个别浓度小，凝集慢的地方，将出现局部缺
陷，如粗粒中黑点所示，故粗粒仍远非理想的单晶。
出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科