标题：镶嵌小巧电子学线路并有较好的位置分辨率检测显微镜
信息分类:站内新闻
作者:yiyi发布
时间:2015-11-22 16:48:36
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正文:
镶嵌小巧电子学线路并有较好的位置分辨率检测显微镜
位置灵敏探测器
半导体探测器发展的早期，就试图制造一种小巧的同时是位
置和能量灵敏的器件。在这些早期的器件中，用镶嵌许多分开的
探测器的组创，或在同一基片材料上制成一定数目的适当分开的
面垒型计数器，来得到对入射粒子位置的灵敏性。
位置灵敏探测器”近来代替了这些系统，因为它结构简单，简
化了相关的电子学线路并有较好的位置分辨率(探测器单元之间
不存在死空间)。使用这些器件能够直接记录粒子的角分布或者
代替磁谱仪上用的照像底板。它能够同时分析入射粒子的动量和
能量，避免了对照象底板作繁琐的显微镜观测。
晶格的结构缺陷
人们通常把半导体晶体假设为静止原子的完美的周期性结
构。实际的半导体与这种情况有许多差别，这种差别主要有热振
动、杂质和结构上的缺陷。对半导体辐射探测器来说，在制造过程
中很容易产生结构缺陷(在375℃时锗就发生塑性变形)。结构
缺陷也可以由辐射引起。
缺陷的重要性主要在于它们对迁移率、复合和俘获现象的影
响，我们以后再研究它。在半导体中存在的结构缺陷，大致可分为
如下几类：口)点缺陷；6)线缺陷；c)面缺陷。因为关于面缺陷(即
。台内平面或表面的不完整性)，目前知道得不多，而且它们并不显
得非常重要，所以我们着重讨论前两类缺陷。
出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科