标题:金属镀层垂直断口的截面金相分析图像显微镜

信息分类:站内新闻   作者:yiyi发布   时间:2015-11-11 16:37:24 将本页加入收藏

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正文:

金属镀层垂直断口的截面金相分析图像显微镜

    在显微镜观察中最重要的一环是特征形貌的选择及拍
摄,这里所确定的照片将是提供讨论和分析报告的依据。由
于制膜或试样表面常夹杂着意外的、非典型性的象征,同时由
于电子显微镜的倍数较高,所以如何观察、如何选择特征视场
就成为相当重要的问题了,但最后处理还是需要依靠观察者
的经验和现场分析的能力。一般说来,要尽可能多作观察以了
解一般的规律性,找出反映真实断口的特征形貌。另外,就是
依靠观察者的经验判断那些是真实的,那些是假象或是次要
的形貌特征,经过仔细判断后,选好视场与倍数,给予拍摄。

断裂途径与显微组织的关系
    在探讨开裂与材料性能的关系时,必然要搞清楚断裂途
径与材料显微组织的关系。要达到这个目的首先要选择一个
合适的断裂部位,然后取其垂直断口的截面。这种制备试样
的过程必须十分小心谨慎。为了保证断口侧不发生倒角,可
靠的方法是保护截面边缘。应用树脂材料,如环氧树脂、电木
粉、聚甲醛等加上坚硬的粉末,如氧化铝、金刚砂粉等给予镶
嵌;另一种保护形式是采用金属镀层,这可用化学方法或电化
学电镀来实施。最常用的是镀镍。对于开裂而未完全断裂的
构件,则可取一完整的裂纹试样,而无需镶嵌。











出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科
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