点击查看产品参数和报价--丨--

---

---

---
正文:
失效分析方法
一般的分析程序
失效分析过程中,每一步基本都是一次性质,不能重复再来。
所以应十分小心,防止将真正的失效原因弄掉或带进新的失效因素
失效现象 250℃,500小时加速寿命试验后,10支失效器件
失效分析
1)常温下测试,分别记录。
2)封装检漏,全部没发现粗漏。
3)打开管壳。
4)管芯表面观察,用60倍双目
立体显微镜,侧光看到焊点金球颜
色变暗。用600倍
金相显微镜亮场及暗场观察没发现异常。
5)划断铝互连用探针测试管芯,发现较大的沟道电流。
6)将管芯用有机溶剂及去离子水清洗并真空烘干。测管芯,沟道
电流仍然存在。证明漏电不是因外表面沾污或凝聚气体造成的。
7)去掉铝膜(用稀硫酸煮)用去离子水冲净,烘干。测管芯,沟道
电流仍存在?
8)去掉二氧化硅钝化膜(用氢氟酸腐蚀),用去离子水冲净,烘干
。测管芯,沟道电流消失。
9)判断这些器件失效是因为二氧化硅内钠离子沾污引起的沟道电
流。
- 咨询电话:010-64034191 010-84021761
联系时告知是在--北京上光仪器--上看到的产品信息,便于客服人员快速给您答复!
点击咨询
点击咨询
出自http://www.bjsgyq.com/
北京显微镜百科