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正文:
在较粗糙的镀层表面测厚,取其平均值作为镀层的厚度
经凋零和校准至符合要求后,立即将探头垂直于规定试样测
量部位,给以适当的压力,此时表头指针所指的数值即该部位的镀
层厚度。然后在附近位置重复测量几次,其数值接近时,取其平均
值作为镀层的厚度平均值。
测量注意事项
1.在较粗糙的镀层表面测厚时,应在不同部位上进行多次测
量,取其平均值作为镀层的厚度,或在相同
粗糙度的基体上进行校
正。
2.镀层厚度小于5μm时,应进行多次测量,然后用统计方法
求得镀层厚度。
3.对铅和铅合金用磁性法测厚时,磁性探头会被镀层粘附。
遇此情况时,可以用薄的油膜涂覆在镀层表面,然后再作测量。但
必须进行厚度校正。
4.化学镀镍层虽是非磁性镀层,但经过热处理后镀层会产生
磁性,因此应在热处理前用磁性法测厚。如必须在热处理后测厚,
则应采用特殊校正。
本方法的测量误差一般在±10%左右,但对较薄镀层误差不
会小于1.5μm
(1)镀层表面清洁时测试误差较小,而在镀层表面存在油污.
氧化皮、锈斑、酸斑、焊接溶剂及其它杂物缺陷等时,测厚误差较
大。
(2)测厚位置对读数有一定影响,探头距试样边缘越近,误差·
越大。通常要求探头与试样边缘距离在6 mm以上较宜。若必须
在边缘测厚时,应进行特别校准,引入校准系数。
(3)测厚时探头的受力和探头相对于被测镀层的垂直位置,
亦影响测厚的读数,当探头与被测镀层垂直情况下,受力越大,落
数越小。一般受力恒定在150--200g为宜。
为了消除上述因素对镀层的影响,测厚时必须注意采用厚度、
形状、光洁度相接近的样板进行校准,并选择适当的测量部位、正’
确的操作方法。才能提高测厚的准确度
出自http://www.bjsgyq.com/
北京显微镜百科