标题:光学显微镜的放大倍数的上限约为1200倍

信息分类:站内新闻   作者:yiyi发布   时间:2015-7-22 23:29:50 将本页加入收藏

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正文:

光学显微镜的放大倍数的上限约为1200倍

电子显微镜的一般介绍
    光学显微镜的放大倍数的上限约为1200倍,在这样大的放:廷
倍数下,景深非常小.由于这二个限制,再加上大多数微电路中,
扩散和金属化区域等等之间的距离可以与光学显微镜所用的光2芝
波长相比拟这一事实,就导致了电子显微镜的日益普及.这些仪
器是用被几十千伏的电压加速了的电子束产生图象和分辨更小辔,
体的.电子的波长比光波波长短得多(分辨力增加的原因),它近
似地由下式给出
式中,V是电子的加速电压.电子显微镜有两种基本的类型:一种
是透射电子显微镜(TEM),它类似于光学显微镜;另一种是扫描
电子显微镜(SEM),它可以对样品表面进行扫描.透射电子显微镜
可以有很高的分辨率(3—5埃左右),而扫描电子显微镜的分辨率
只有100N200埃.可是,透射电子显微镜只能使用薄得足以使电
子束能明显穿透过的试样.所允许的实际厚度与材料及所用的加
速电压有关,但一般小于2000埃.因此,微电子学中所用的大多数
薄膜,即使它们不是附在较厚的基片上,对用透射电子显微镜观察
而言也是太厚了.为此,块状的材料或较厚的薄膜必须减薄,或者,
假如只是对表面结构有兴趣,则可以用足够薄的膜来制作复型.
    扫描电子显微镜是根据一些不同的现象来构成衬度的,所有
测量都能在一个表面上进行.对于基本的材料研究,诸如寻找
沉淀物以及研究晶粒结构和位错,透射电子显微镜是最适合的.对
于器件工艺的控制和失效分析,则扫描电子显微镜更为有用,它可
用作为光学显微镜的扩展,或用来检测任何其它方法都不易辨别
的缺陷
扫描电子显微镜的应用  扫描电子显微镜的最大应用在于可
用高的放大倍数和很大的景深来检测结构和器件.
其中包括一张从硅衬底
上生长出来的某些硅晶须的照片,它是用任何其它办法都无法得
到的.对氧化物台阶上的集成电路金属覆盖物已作了广泛的研










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