标题:表面层粗糙度测量SEM电子显微镜有较大的景深、立体感强

信息分类:站内新闻   作者:yiyi发布   时间:2015-7-3 14:03:53 将本页加入收藏

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正文:

表面层粗糙度测量中光学显微镜的设计原理

电子显微镜与普通光学显微镜的比较

  借助于光波,人们把肉眼的视力提高了近500倍,如果借助于波
长更短的电子,可将人的视力提高到80万倍,因此本质上光学显微
镜和电子显微镜的原理的类似之处,它们除了放大倍数的差别外,
凡要是图像的景深不同,SEM有非常大的景深、立体感强。
  样品的影响包括表面层的非均匀性、表面层粗糙度等。
  分析方法,一般通过峰位移可确定原子所处的化学环境,通过峰
面积可计算在该价态下原子的相对含量。

  样品
  样品一般是一平方厘米见方的固体或可载于固体上的其他非挥发
性物质,用双面胶固定在样品台上,样品应是地真空系统中无挥发
性物质,对于进行体分析的样品,楞通过逐层刻蚀的方法进行分析
或通过变角进行研究。











出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科
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