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工具显微镜 JGX-5

显微镜特点：

本显微镜作为高级金相显微镜使用，是针对半导体工业、硅片制造业、电子信息产业、冶金工业开发的，可用来鉴别和分析各种金属和合金的组织结构，可广泛应用在工厂或实验室进行铸件质量的鉴定、原材料的检验或对材料处理后金相组织的研究分析等工作。符合人机工程学要求的设计，使您在工作中感到舒适和放松。

放大倍率：
‧ 配有基本20 × 能快速切换的高数值光圈单镜
‧ 另有10×、50、100×、200×、400×高数值光圈配件
    照明设备：
表面折射(标准型)
‧150瓦6环灯(200小时)
  表面折射(选配)
‧2颗30瓦灯泡配合完整的电源供应(600小时)Episcopic ，透过目镜的75瓦照明设备
  量测台功能：
‧ 最大Z轴移动距离为230mm
‧ 手动或自动的X、Y轴定位量测
‧ 手动或自动的Z轴区分对焦量测
‧ 对X、Y轴的自动量测提供影像边缘侦测
‧ 对Z轴的自动量测提供自动对焦
    量测范围：
‧ 400mm × 300mm(16”×12”)
‧ 300mm × 225mm(12”×9”)
‧ 200mm × 150mm(8”×6”)
‧ 150mm × 150mm(6”×6”)
‧ 手动或自动载物台可供选择
    外观尺寸：
‧最小尺寸：600mm×700mm×400mm
‧最大尺寸：700mm×700mm×650mm 外观尺寸是依据不同的组合而定
    资料项目：
‧ Quadachek 200系列微处理机包含：  ‧ Quadachek 5000几何软体包含：
数字与图形运作
多种语言
平形列印输出口/RS 232连接
线性错误矫正程式
局部软体
偏斜线/基准线
 个人电脑与萤幕
几何与数值显示
多种语言
手动或自动
线性错误矫正程式
2D或3D
CAD输出与输入(2D)
广泛的报告与资料传输
协助与自我学习功能
协助与自我学习功能
影像边缘侦测(自动量测系统)
自动对焦(自动量测系统)

附件选择： 局部软体
‧ 数位相机或数位录影机
‧ 遮光罩在过于光亮的环境下能减低相对的强光
‧ 影像观测的颜色滤器
‧ 自我校对与确认的方格座标