标题：荧光光谱的测量什么是样品谱的测量-显微镜应用
信息分类:站内新闻
作者:yiyi发布
时间:2015-5-6 20:56:57
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正文:
光谱校正
荧光光谱的测量是一项比较复杂的操作，用仪器直接测到的表观光谱
，经过减去背景谱和乖以校正因子才能得到真实的光谱分布曲线。
在此不现试述，现仅强调在光谱测量过程中几个需要特别注意的问题
：
1.样品谱的测量
被测组分最好能够占满整个测量光栅，测量光栅内的组分的荧光性应
该均匀一致，被测组分周围不可有强荧光物质的干扰。
2.背景谱的测量
背景谱和样品谱的测量条件必须一致，背景谤测量位置的选择十分重
要，当被测组分周围无荧光或荧光很弱时，可选择不发荧光的丝质体作
为背景，若被测组分周围荧光也较强时，则要在被测组分附近选一个位
置进行测量，根据经验，一般背景的荧光越弱越好，其强度不大于样品
谱强度的十分之一，最大不能超过五分之一，否则会影响光谱校正结果
。
出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科