标题:荧光光谱测量采用365nm波长光照射-显微镜光度计

信息分类:站内新闻   作者:yiyi发布   时间:2015-4-29 12:42:52 将本页加入收藏

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正文:

荧光光谱测量采用365nm波长光照射-显微镜光度计


    荧光的定量测定稳定的激发光源和灵敏度高和光电倍增管
器是荧光定量测定所不可少的基本元件,可使用辐射范围的340-380nm
的窄带激发滤光片、400nm 分光镜电流、物镜、双色光分光镜
和浸油的荧光)的校正和显微镜光度计光谱灵敏度(主要指光
电倍增管对颜色的灵敏性导致荧光强度及颜色的变化。
             
    1.荧光强度测量:最先建立了在蓝光激发下用轴玻璃为标
准测定546nm (采用546nm 滤色片)波段荧光强度的方法,提
出用长波紫外光(抑制滤光片430nm )激发,测量546nm 的荧
光强度,被测物体的测量面积要大(相当于0.1mm 直径),按
反射率测量法把轴玻璃标准的荧光强度定为100 ,546nm 的波
长可用有刻度的滤光片单色器来调准,数字电压表上读出的值
就是546nm 的相对荧光强度(勿需校正,因为546nm 背景是确
定了的)。由于光片上组分厚度无法测得,因此受其制约有绝
对荧光强度很难获得。
             
    2.荧光光谱测量:采用365nm 波长光照射,在400nm ——
700nm 波长范围内测量被激发的荧光,就可获得荧光光谱,为
此用干涉分度滤光器,把从样品中反射上来的荧光的色散,用
高灵敏度的光电倍增管分别测定不同波长的强度,记录从400nm
——700nm 之间的发射光谱,它是由一系列不同波长的强度点
构成的平均光谱,通常以测得的这个平均光谱曲线的特征来表
示样品的荧光性,主要参数有:显微片技术的发展与应用显微
制片技术是显示微观世界的一门技术,它同其它学科一样,也
经历了一个不断改进、不断完善的过程。










出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科
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