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正文:
在金相检验中经常遇到氧化层、渗层、表面热处理层、镀
层及涂层等表层相分析问题。采用定性分析进行表层的物相
鉴定就可以较容易地解决这些问题。
以物体的表导进行X射线结构分析,虽然也是采用衍射仪法
的德拜粉末照相法,但对样品的被检验部位的处理却要十分
精心,一定要保证被检验部位不被损坏,并恰好位于入射X射
线的光束中心。
有一些衍射仪上还配有可以进行化学成份分析的X射线
荧光分析器,它是利用当有足够能量的X射线照到样品上时,样品
上的物质会受到激发面而产生荧光X射线(二次特征X射线)
,所以可以根据测得的荧光X射线的波长和强度进行物质组成
元素定性和定量化学分析。
图象分析仪的局限性
1.第二相与基体灰并相近时,定量分析工作要进行预处理
,这种处理会增加工作量和给定量工作带来误差。
2.主要用于二相合金,对多相合金各相的定量较为麻烦,
有时无法进行。
3.目前图象分析仪主要使用光学
显微镜,放大倍数和分辨
率受到限制,虽可接连其他装置,但在实际使用中有困难,
而在采取分析电子金相照片时,又大大增加了工作量。
4.价格昂贵,特别是与它所能进行的工作相比较,因而会
在相当时间内无法普及伤脑筋。
5.在理论上和实际应用中尚存在一定问题,因而限制了应
用范围。
出自http://www.bjsgyq.com/
北京显微镜百科