标题:电子显微镜可以放大10000倍来测定光学平晶的表面

信息分类:站内新闻   作者:yiyi发布   时间:2014-8-16 18:19:59 将本页加入收藏

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正文:

电子显微镜可以放大10000倍来测定光学平晶的表面

用放大10000倍来测定有缺陷的光学平晶的表面,

可以看到图形的再现性的误差在0.1微米以下。
随后,在光洁度为0.3微米的抛光表面的同一位置上,

以纵向放大倍率放大7000倍、横向放大倍率放大100倍
测定二次。

它的测定结果,画在同一张感光纸上,它的断面形状曲
线的记录清楚地显示出再现性是良好的。

而且,这个记录图形与用显微干涉计求得的同样
资料的同一位置的断面形状曲线相比较,显然它们
的波形没有显著的差别。











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