标题：AFM电子显微镜样品检测中淀粉团粒样品制备
信息分类:站内新闻
作者:yiyi发布
时间:2014-7-12 19:34:32
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正文:
AFM电子显微镜样品检测中淀粉团粒样品制备
用于原子力显微镜成像的淀粉团粒样品制备
为获得重现性高、品质高、有愈义的结果，原子力显微镜成像的样品制备非常关键
虽然已有关于制备平面载体上分离的多糖链的常规方法的报道,淀粉团粒(粒子直径约
0.1~ 200μm)的原子力显微镜(AFM)成像还存在一些与样品尺寸及形貌直接有关的问
题。特别是有关曲面或点面成像，或何时采用特殊方法制备物料以展现淀粉团粒内
表面的问题。
理论上，由于微悬臂跨过微米尺度的样品扫描的需要，原子力显微镜应该在平面上操
作;面且微悬臂的垂直运动的限制，样品高度差异大(超过数徽米)会阻碍针尖扫描;或者
由于针尖进人成像范围，会产生针尖的“自我成像”.非固定的粒子可能会造成
如探针引起团粒移动或者当探针接触样品时发生“弯曲的”的问题
由于这些原因，几乎所有发表的有关全淀粉团粒的原子力显微镜的研究都包括了团粒的包埋，
一方面是为了固定团粒，另一方面是为了减少样品表面总体高度的差异。据报道，使用玻璃
均质机做物理破坏的方法比用消化或切割的方法更适合观察淀粉团粒裸露的内表面，但是新
趋势是以接触模式来研究被树脂包裹的团粒薄片
出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科