标题：高折射率矿物分析用偏光显微镜-矿物样品含量测定
信息分类:站内新闻
作者:yiyi发布
时间:2014-5-1 11:53:23
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正文:
高折射率矿物分析用偏光显微镜-矿物样品含量测定
使用两面抛光薄片的优越性
(1)两面抛光薄片最大的优点是可以单独用透射光或反射光，或者同时
用两种光对岩石中的透明、半透明和不透明矿物的同一组合在显微镜下进行
研究。这种薄片可以使低折射率粘结介质中的高折射率矿物的光散射变小。
与单面抛光薄片相比，两面抛光薄片的视域在清晰度、分辨率、色彩和颗粒
边界上的差异等方面都有明显的改善。
(2)两面抛光薄片能更好地对矿物边界作三维观察，从而能作出更好的结构
共生解释。
(3)两面抛光薄片主体上是透明薄片，因而对透明矿物中由于不同应变
速率形变引起的内部亚构造，以及包裹体等能进行较好的观察和研究。
(4)两面抛光薄片也可用于探针分析(电子探针和离子探针均可)、扫描
电镜研究以及同位素研究。
(5)如果样品中只含有百分之几的不透明矿物，那么用两面抛光薄片，
在反射光下对矿物百分含量测定结果与在透射光下测定的结果经常出现误差
。实际上，在反射光下测定的结果比较可靠，所以我们现在已不再建议采用
透射光来作矿物含量分析了。
(6)两面抛光薄片还能起到一块光片所能起的相同作用，如可作反射率
侧定、显微硬度测量、差别蚀刻，以及与化学试剂的反应等。
(7)可以进行对同一现象用透射光照片和反射光照片作比较的成对显微
照相。
出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科