标题：岩石切片组成和结构分析专业光学显微镜
信息分类:站内新闻
作者:yiyi发布
时间:2013-11-28 20:39:11
将本页加入收藏
下一篇：重砂矿物表面特征,矿物剖面纹理测定金相显微镜
上一篇：岩石显微构造变形分析专业图像显微镜
点击查看产品参数和报价--丨--
---
---
---
正文:
岩石切片组成和结构分析专业光学显微镜
薄片类型
标准薄片:标准薄片由三部分组成:载玻片、岩石薄片和盖玻片，
它们的厚度分别在0.8一1.9 mm, 0.03 mm和0.2 mm。
一般用途的薄片都有一个盖玻璃片，但也有一些特殊用途的薄片，
其大小和厚度都与标准薄片有所差别。
大薄片:构造现象往往比较复杂，而且较小的尺度很难将整体面貌反映出来，
因此经常需要切制一些超出正常标准大小的薄片。
超薄片:对于细粒岩石，尤其是微米或纳米尺度颗粒的岩石，
普通薄片很难观察到颗粒单体的一些特点，因而致使颗粒形态、
边界等都不能正常显示。因此常常需要切制厚度低于0. 007 mm的超薄片。
对于双折射率过高的矿物，如方解石，超薄片使得观察效果最佳
观察与分析
应用光学显微镜进行岩石组成和结构分析，应用费氏台开展晶体
优选方位的测定，进行岩组分析;分别应用电子探针、透射电子显微镜、
扫描电子显微镜和EBSD进行微区成分、结构形貌、组构分析与研究工作。
根据需要，还可以进行微区成分分析、矿物年代学测试等更进一步的
研究工作。
出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科