标题：氧化锌及金属镀层截面观察晶格专业金相显微镜
信息分类:站内新闻
作者:yiyi发布
时间:2013-10-23 20:16:18
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正文:
氧化锌薄膜分析
氧化锌压电薄膜，薄膜沉积后品质的好坏判断为使用 XRD 量测
是否在Ｃ轴优选方向有一定强度；AFM电子显微镜 量测其平坦度的好坏，以及
SEM 横截面图观察晶格成长方向，以上量测结果都将影响表面声波
传播特性，然而 ZnO 结晶越完美可以让材料的性质一致且使表面声
波的滤波稳定度提高；反之结晶性不佳，原子内部排列不规则，能量
无法完整经由薄膜传递，会造成损耗，使滤波稳定度下降;所以当 ZnO
结晶性越完美，X-ray 绕射峰的背景值越低且优选方位越好，越适合
用来作为滤波材料
出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科