标题：扫瞄式及偏光显微镜可用于观察二维材料显微结构
信息分类:站内新闻
作者:yiyi发布
时间:2013-6-12 15:19:24
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正文:
扫瞄式及偏光显微镜可用于观察二维材料显微结构
扫瞄式显微镜（SEM）及偏光显微镜(Polarized Microscopy)观察二维
PAN/Pitch、PAN/CVI、Pitch/resin/CVI三种碳-碳复合材料，在经不同的磨耗条件
下，其磨耗面前后显微组织之变化。实验结果显示在SEM和偏光显微镜观察发现，
不同制程条件下其基材型态也有所不同，相对的石墨化的程度也有所不同，
而在偏光下则可由颜色的差异作一判断。
在磨耗面SEM分析方面发现整个磨耗过程大概可呈现四种类型磨耗面，
在Type1型磨耗面表面微突物大部分被磨平，部分纤维断裂，小孔隙被磨屑填满，
大孔隙则有扩大的趋势，Type2型磨耗面无法清楚分辨基材和纤维，磨耗屑布满整个
表面，形成粉状磨屑层，transition发生，磨擦系数激增，Type3型磨耗面润滑层的产
生，产生一平整、光滑平面，磨耗量和磨擦系数下降并呈现稳定状态，
第四型磨耗面部分润滑层剥落，部分生成，并且整个磨耗过程在初期第一、
第二阶段之后，在第三、第四阶段循环。
而在磨耗面偏光显微镜分析下，PAN/pitch、PAN/CVI、Pitch/resin/CVI三种碳-碳复合
材料随着磨耗进行，碳基面排列混乱，颜色分布显得杂乱无序，部分区域出现磨耗前
未出现之颜色，整个磨耗过程自Type1型磨耗面出现之后，碳基面排列失去规则，
呈现紊乱的情形。
出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科