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正文:
清洁油污检测
从光散射 Rayleigh 的理论来说,当微粒直径远小
于光波长时,散射光源可视为点偏振 dipole。光源入射晶圆表面微粒后,产生之反射光
也会照射在微粒上,形成 dipole,产生半圆的散射光
纳米绕射及散射线宽量测技术AFM 量测 CD 线宽量测技术,采用左右倾斜,兩次扫描量测,
再以缝补技术补偿误差,经测试后,发现 AFM电子显微镜 固定探针机构,会干涉到左右倾斜角度,
所以必需改采前后倾斜,已开始设计采前后倾斜所需调整机构。
阶高标準片(介于 1-100 μm)研制
阶高标準片(介于 1-100 μm)是采用在 50 mm 直径圆形基板上,表层加工成精密镜
面,再以钻石刀精密加工凹槽,可视要求规格,加工不同阶高,已有完成品,但标準件
加工成本太高,若能分割成多片伞形尺寸,可降低成本外,整体尺寸与重量都能大幅降低,
切割困难性在于可能会损毁镜面表面或阶高标準产生变形,加工屑料微粒会掉入阶
高凹槽内,冷却液污损标準件等问题。
将测试以线切割方式,将阶高标準片浸于冷却液,避免高温,加工屑料损伤镜面,
加工完成后,再以超音波清洁油污与残屑
出自http://www.bjsgyq.com/
北京显微镜百科