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正文:
显微镜的盖玻片厚度范围从0.1mm 到0.15mm
首先利用薄圆片的挠度来
测量金属膜的应力,以显微镜的盖玻片(直径22.2 mm)当作基板且
以平整度和厚度的均匀性为选择基板之考量
此基板厚度范围从0.1mm 到0.15mm,膜厚约1000至3000Å,由于铁膜的应力够大而使基板弯曲,
测量方法是藉着光学干涉原理观察牛顿环,利用平整度为十分之一波长的光学平镜(optical flat) 测量基板的弯曲。
牛顿环法的基本原理与悬臂樑法相似,也是利用基板的形变测定薄膜的内应力。与其不同的是基板形状,
因此也称为圆片法(disk method)
早期使用的基板为玻璃、石英、单晶矽等材质,其尺寸范围为厚度0.13mm、直径18mm
至厚度0.22mm、直径30mm,基板的表面要进行光学抛光。近年来也有使
用直径5cm,厚度1mm的玻璃圆片做为镀膜基板。
在蒸镀前后,将基板放在石英板的光学平面(optical flat)上,测量其曲
率半径。把试样放在光学平面上后,用垂直于表面的光照射,这时在
试样表面和光学平面之间由于光的干涉将产生牛顿环,测量牛顿环的
条纹数目的变化就可以测定基板的曲率半径,从而算出内应力
快速地量测应力。量测方法是在一很小的圆形薄基板上蒸镀一层薄膜,
可使用一种普通的显微镜盖玻片(直径18mm,厚度0.18mm)为基板。镀膜后会使盖玻片变形,
约成一种抛物面的形状,在牛顿环的实验中,是以平行光入射在样品表面,在样
品与光学平板之间产生干涉条纹,再从其表面反射到屏幕上,依据几
何光学法来决定此一”球形面镜”的焦距,薄膜影像的放大或缩小,即
表示由于膜应力对应于基板的畸变大小,由放大倍率的数值决定应力的符号
出自http://www.bjsgyq.com/
北京显微镜百科