标题:铝表面粗糙度分析-金相显微镜来观察基板抛光面颗粒

信息分类:站内新闻   作者:yiyi发布   时间:2013-3-19 11:53:15 将本页加入收藏

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正文:

铝表面粗糙度分析-金相显微镜来观察基板抛光面颗粒



氮化铝表面粗糙度分析

利用金相显微镜来观察基板抛光面的

表面粗糙度(Surface roughness),量测380 μm 厚的氮化铝基板表面形貌,

可观察到颗粒之间的高度差约为 40~80 nm,表面粗糙度(Surface roughness)约为 40 nm;

630 μm 厚的氮化铝基板,颗粒之间的高度差约为 20~60 nm,表面粗糙度约为 20 nm。

氮化铝基板未抛光之前的表面粗糙度约为 400 nm。

相较于未抛光前,抛光后表面已平整许多,有助于提升后续晶圆键合制程的成功率










出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科
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