标题:上光精密检测显微镜可用于瑕疵检测,外观检查,尺寸量测

信息分类:站内新闻   作者:yiyi发布   时间:2013-3-10 20:24:06 将本页加入收藏

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正文:

上光精密检测显微镜可用于瑕疵检测,外观检查,尺寸量测

检测显微镜搭配高速CCD摄影机技术与快速瑕疵检测之影像处理及判别法,
以节省人工检查所花费的成本,协助客户全面把关产品品质。


定制化检测设备的规划设计

1.高精度、高可靠度的检测软体
2.采用人机介面设计,检测系统操作容易
3.可检测各式塑胶射出成型后产品的瑕疵
4.判读快速,节省人工检查所耗费之时间
5.可搭配生产线速度的In Line / Off Line即时检测系统
6.提供外观检查、尺寸量测、震动盘面共用、正反面检查、
  四面检查、六面检查等定制化检测需求



可检测项目

外观检测:缺角、边损、毛边、拉丝、包风、气泡、色差、刮痕、脏污、灰尘、微粒、
异物、变形、相似度、文字辨识、印刷品质、灰阶值检测、亮度、伤痕检测、计数、有无检查、
智能比对等等。尺寸量测:平面度、正位度、角度、弧度、宽度、间距、线宽、线距、同心圆、
真圆度、圆率、周长、面积、形状、矩形、圆形、椭圆、多边形、直线数量等等










出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科
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