标题:每次使用显微镜分析样本前需要重新调整光源

信息分类:站内新闻   作者:yiyi发布   时间:2013-3-4 21:50:07 将本页加入收藏

下一篇:石绵显微镜检测实验方法详细步骤-偏光观察仪器       上一篇:显微镜光线穿透滤纸,利于品管与实验室间比对

收藏到:

点击查看产品参数和报价--丨--

--- --- ---

正文:

每次使用显微镜分析样本前需要重新调整光源


1.重新调整光源。
2.针对要分析之纤维状物质聚焦。
3.确定光圈完成对焦后打开照明至完全照明。
5.1.2 每隔一段时间或每次分析样本前以 HSE/NPL 检查玻片(MarkⅡ)测试显微镜之侦测极限,测试步骤如下:

1.取出 HSE/NPL 检查玻片(MarkⅡ),将玻片中心置于接物镜下。
2.观察计数板范围,找出该玻片内之沟纹,调焦使其沟纹清晰可见。

备注:此玻片包含有七组沟纹,每一组有 20 条沟纹,可见度随着第一组到第七
组而渐趋不明显,纤维计数所需要之条件为显微镜必须能够完全清晰看见
前三组之沟纹,第四组及第五组应为部分可见但可能非常模糊,而第六及
七组则完全不可见,假使显微镜之解析度太高或太低,均不符合纤维计数。

3.假如影像品质衰退可清洁显微镜之光学系统,若问题依然存在,则须通知仪器商进行维修










出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科
特别声明:本文出自北京上光仪器有限公司-未经允许请勿转载,本文地址:http://www.bjsgyq.com/news/4012.html  
  北京地区金相显微镜专业的供应商

合作伙伴:

友情链接:显微镜工业投影仪,轮廓投影仪,测量投影仪油品清洁度分析系统表面粗糙度阿贝折射仪金相抛光机