标题:高解析双折射率测量-电子电子显微镜观察液晶薄膜

信息分类:站内新闻   作者:yiyi发布   时间:2013-2-28 1:03:45 将本页加入收藏

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正文:

高解析双折射率测量-电子电子显微镜观察液晶薄膜


研究液晶薄膜材料的物性,临界行为,与其在纳米尺度下的低维度效应, 
采用能够控湿温压的穿透式电子显微镜对液晶薄膜进行结构分析,其他相关的实验设备还包括液晶超薄膜光热量测系统,

高解析差动式光反射量测仪,高解析双折射率测量设备,液晶光学纹理分析设备,以及液晶薄膜表面张力测定仪等,

从多方面瞭解液晶薄膜材料的特性,此外我们能够成功制作液晶与导电高分子单层膜,
并利用其自我组装之特性进行纳米元件的操控和开发。研究的材料包含传统液晶材料,纳米铁电和反铁电液晶,盘型和香蕉型液晶材料,

纳米液晶光学晶体材料与发光导电高分子等。同时在生物物理方面,
我们亦将利用控湿温压穿透式电子显微镜对不同种类抗菌与病毒于细胞膜上的排列和穿遂行为进行深入探讨。 液晶光电显示研究方面,

探讨LCOS(LCs on Silicon)基板和液晶分子介面间的配向机制与前瞻型V型(V-LCD)液晶显示器的开发。

采用斜向蒸镀SiOx的技术和其他nanomechanics的方法改变基板的表面状态用来控制液晶分子与基板间的预倾角,
使显示器的光学对比度加大并取代传统以摩擦为配向的技术,LCOS基板未来应用潜力甚广,包含高解析高对比小尺寸液晶显示器,
液晶投影机以及高解析背头式电视机的诞生;而在V-LCD光电显示的研发中,我们使用快速反应(~μs)之铁电和反铁电型液晶分子材料来进行其V型光电特性之研究,

并使其能够在短时间内商品化,研究内容包括V型液晶穴制作、配向技术开发、光学对比度和开口率之改进,
光电驱动机制的瞭解以及离子浓度控制等方面的研究工作,此外其他相关液晶光电显示应用的研究工作亦在进行中。










出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科
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