标题：X射线分析可测定矿物的形成温度分析显微镜
信息分类:站内新闻
作者:yiyi发布
时间:2020-7-19 1:47:31
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正文:
X射线分析可测定矿物的形成温度分析显微镜
通过天然矿物晶体时,也会发生吸收、干涉、散射、衍射等现象y但
通过一般物质时不发生反射、折射现象,通过普通光栅亦不引起衍射,
因X射线波长较可见光短得多,能量较大,粒子性要比可见光显著得多,
故这种射线沿直线进行,在电场与磁场中它并不偏转。
利用X射线分析法可测定矿物的形成温度和压力,这就是Ⅹ射线地质
温度计和压力计。其基本原理是有限固熔体的类质同象极限是温度和
压力的函数。因为在固熔体极限范围内,类质同象混晶的结晶构造其晶
孢参数是随着类质同象混人组分含量的变化有规律地连续变化的。因
此,只要固熔体极限与温度或压力间的关系以及成分与晶孢参数的关系
确定,就可用X射线分析法测定晶胞参数,从而间接地推知矿物晶体形成
的温度或压力,这就是X射线地质温度计及压力计。
1。对低含量矿物(一般小于1—5%)一般无法鉴定,因为德拜相片上无
衍射线条或很弱的衍射线,由此很难确定其是否存在。
2.矿物中有类质同象混入物存在时,将引起d值的变化,由此,引起鉴别
物相和矿物定名的困难。
3.样品中物相愈多,这使衍射线互相叠合,由此造成鉴定物相时的困难
,因此试样最好不超过三种矿物相,如果超过三相,可先进行挑样,使样
品纯化,然后进行X光粉晶物相鉴定工作。
4.粉晶照相法对、物进行精确定量工作尚须进一步研究,目前只能作
定性、半定量分析。
出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科