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正文:
透射电子显微镜(T.E.M)是利用高能的电子流聚焦成微细的电子束
,与试样物质相互作用产生的透射电子,进行高分辨的图像观察,或用电
子衍射花样进行晶体结构分析和用能谱仪进行成分分析的仪器。它的
特点是能够在同一试样上把形貌观察、结构分析和成分鉴定三者有机
的结合起来。
因为电子波与光波一样,当通过不均匀的介质时,能产生折射、干涉
、吸收、散射、衍射等;它既有微粒性又有波动性。当通过不均匀的电
场(静电透镜)或磁场(电磁透镜)时,也会产生偏转、聚焦。从某一方向
发射出来的电子,通过静电透镜或电磁透镜会聚焦在一起,前者称静电
透镜,后者称电磁透镜;由静电透镜组成的电子显微镜叫静电式电子显
微镜。由电磁式透镜组成的电子显微镜叫电磁式电子显微镜。由于电
磁式透镜易于控制,发展迅速,在结构和使用技术上比较成熟,故得到了
广泛的应用,可满足地质、冶金、材料、钢铁、石油、媒碳、医药卫生
、化学、半导体、国防等方面的要求,且有很高的分辨率,最高可达14-
204埃,放大倍数可由300倍150万倍中间连续可调,故得到了广泛的应用
。
出自http://www.bjsgyq.com/
北京显微镜百科