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电子显微镜：电子显微镜(Electron microscopy)，一般简称为 EM，
依成像的过程和构造的複杂性，可分为扫描式和穿透式电子显微镜等二大類。
利用电子显微镜观 察之标本实必需经特殊步骤处理后，方可观察。另外，
还有扫描式原子探测显微镜，目前应用于观察 原子或分子的形狀。
由于这些设备昂贵，皆属于国 家贵重仪器，且技术性高，需有专人处理。

1. 穿透式电子显微镜(TEM)： 以电子枪（electron gun）发射之电子束
（electron beam）为光源，由于该波长极短，可以直接穿透 0.2 μm 的
标本，使影像在 photographic plate 上呈现 2-D 的结构。
2. 扫描式电子显微镜(SEM)： 以电子枪（electron gun）发射之一次电子束
（称 primary electron beam）为光源，该波长极短，再照 射在样品标本
表面（通常外表镀金）后，会激发二次电子束（secondary electron beam）
反射，使影像为电子接收器接收，经一連串影像放大后，会在萤幕上呈
现 3-D 的物体外表影像结构。
图4-6. 穿透式（左欄）及扫描式（右欄）电子显微镜及所观察之影像

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