信息分类:金相文章
作者:yiyi发布
时间:2011-12-14 0:49:30
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纳米材料结构分析方法和所需要的仪器
Atomic Force Microscopy (AFM):
原子力显微镜。利用一个固定在显微臂上针尖,对样品表面进行扫描,通过测量针尖在样品表面滑动或垂直方向移动的作用力的变化,获得样品表面微区的三维结构、化学成份和物理性能的分析技术。
Auger Electron Spectroscopy (AES):
螺旋电子光谱、欧杰电子能谱仪。
BET adsorption method:
利用吸附氦气与BET 法计算出比表面积与奈米微粒密度。根据压力和吸附量的关係,用BET方程式计算出粉末表面气体单分子层的吸附量,进而求得比表面积的方法。
Differential Mobility Analyzer (DMA):
微分电移动度分析仪。(交大环工所修正)
Electron Energy Loss Spectroscopy (EELS):
电子能量损失光谱仪、电子能量损失能谱仪。
Electron Probe MicroAnalysis (EPMA):
电子探针微量分析、电子探针微分析。
Glow Discharge Mass Spectrometry (GDMS):
光释放质量光谱仪、光暈光放电质谱仪。
Infrared Absorption Spectroscopy:
红外吸收光谱法。研究红外輻射与试样分子振动和(或)转动能级相互作用。利用红外吸收光谱带的波长位置和吸收强度,來测定样品组成、分子结构等的分析方法。
Magnetic Force Microscopy (MFM):
磁力显微镜。透过测量扫描探针与样品表面间磁力的变化信号,來观察样品表面微区形貌和磁特性的分析技术。
malvern multisizer:
颗粒表面电位测定仪。(交大环工所修正)
mercury porosimetry:
压汞仪法。对水银加压力,渗入多孔材料中,根据水银压入的孔半径与压力成反比的关係,求得多孔材料孔径分佈的方法。
mossbauer spectrometry:
穆斯堡尔谱法。利用物质中特定原子核对于γ 射线共振吸收,测量原子核与其核外环境(核外电子、近邻电子及晶体结构等)之间的相互作用,从而得到核外电子、近邻原子及晶体结构等信息的分析方法。
Photoluminescence (PL):
萤光。
Photon Correlation Spectroscopy (PCS):
光子相关谱法、光子关聯光谱法。用一单色相干的激光光束照射分散于液体中的颗粒,在某一角度(通常为90°)連续纪錄被颗粒散射的光,并传送到相关器,应用散射光强度自相关函數计算出颗粒的平均粒度和粒度分佈宽度的分析方法。
Raman spectrometry:
拉曼光谱法。以单色光照射试样,有ㄧ小部分入射光与样品分子碰撞后,产生非弹性散射,由于此谱线的产生往往涉及分子的振动能级的变化。该方法已被普遍应用于测定试样的组成、分子结构等。
Scanning Electron Microscope (SEM):
扫描电子显微镜。为检测微粒大小、形狀、架构与胶凝作用技术之ㄧ。利用扫描入射电子束与样品表面相互作用所产生的各种信号(如二次电子、X射线谱等),採用不同的信号检测器來观察样品表面形貌和化学组成的分析技术。
Scanning Mobility Particle Sizer (SMPS):
扫描式电移动度微粒分析仪、扫描漂移动微粒分析仪、扫描移动微粒分析。可以准确量测微粒之粒径(0.005~1.0 μm)分佈及數目浓度。
Scanning Near-Field Optical Microscopy (SNOM):
扫描近场光学显微镜。利用孔欄限制的光纤扫描探针,在距離样品表面一个波长以内探测样品表面的光学特性变化,将光信号的变化转换成图像,获得样品表面结构及光学特性的分析技术。
Scanning Probe Microscopy (SPM):
扫描探针显微镜。利用测量扫描探针与样品表面相互作用所产生的信号,在奈米级或原子级的水平上研究物质表面的原子和分子的几何结构及相关物理、化学性质的分析技术。
Scanning Thermal Microscopy (STHM):
扫描热显微镜。透过控制、调节表面盖有镍层的钨丝探针针尖与样品间距,进行恆温扫描,观察样品表面微区形貌的分析技术。
Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM):
扫描穿透电子显微镜。
Scanning Tunneling Microscopy (STM):
扫描隧道显微镜、扫描穿隧显微镜。利用曲率半径为原子尺度的金属针尖,在导体或半导体样品表面扫描,在针尖与样品间加一定电压,利用「量子隧道效应」來获得反映样品表面微区形貌及电子态图像的分析技术。所谓隧道效应係指粒子可穿过比本身总能量高的能量障碍。
scanning-probe instrument:
扫描探针仪器。
Small Angle X-Ray Scattering (SAXS):
X射线小角散射法、小角度X光散射法、小角度X-射线散射法。利用X射线在倒易点降原点(000 结点)附近的相关散射现象,來测定长週期结构和奈米粉末粒度分佈的分析方法。
Transmission Electron Microscopy (TEM):
穿透式电子显微镜。为检测微粒大小、形狀、架构与胶凝作用技术之ㄧ;以透射电子为成像信号,透过电子光学系统的放大成像观察样品的微观组织和形貌的分析技术。
transmission electron microscopy-image analysis:
透射电镜-图像分析法、穿透电子显微镜-对像分析。利用电子显微镜成像结合图像分析系统,测量奈米粉末的形貌和粒度分佈的分析方法。
Ultrafine Condensation Particle Counter (UCPC):
超细凝结微粒计數器。(交大环工所修正)
X-Ray Absorption Near Edge Spectroscopy (XANES):
X光吸收边缘结构光谱。
X-Ray Diffractometry Line Broadening Method (XRD-LB):
X射线衍射线宽化法、X射线绕射线置化法。根据晶粒奈米化和/或晶格畸变所引起的衍射线宽化现象來测定晶粒尺寸和晶格畸变的分析方法。
X-Ray Diffractometry (XRD):
X射线衍射法、X光绕射法、X射线绕射法。根据物质的X-射线衍射图谱特徵,对其物相和结构等进行测定的分析方法。
X-Ray Photoelectron Spectroscopy (XPS):
X光光电子能谱仪。
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