标题：高分辨电镜应用-试样的厚度不可能精确测量
信息分类:站内新闻
作者:yiyi发布
时间:2016-11-4 22:56:18
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正文:
高分辨电镜应用-试样的厚度不可能精确测量
物镜欠焦斑的值和试样的厚度是两个可调节使之与图像的主要特征
相适应的重要参数，欠焦斑的值可通过拍照TEM照片时试样的物镜电流
的大小来估计，而试样的厚度不可能精确测量。要患得到质量高、衬度
好的照片，试样的厚度通常要小于10一20nm。各种各样的软件包可用来
图像模拟，且上述所有量在计算中都可方便地引入。非完整晶体和界面
的图像计算
高分辨电镜最重要的应用之一是确定缺陷部位和晶界区域附近的原
子结构。这是透射电镜独特的性质，无论是用X射线还是用中子衍射都
无法做到。如前所述，由于亮斑或暗斑能否表征原子排列的投影取决于
试样的厚度和透镜的欠焦，衬度的反转说明了在这种情况下确定缺陷附
近的原子位置的复杂性。通过构造一个只包含一个缺陷的超晶胞宋完成
图像的模拟，这个超晶胞应大得可隔绝由两个相邻缺陷产生的散射波间
的相互作用，同时为了减少计算时间，晶胞也不能太大。
出自http://www.bjsgyq.com/北京显微镜百科