标题:粒度分布分析图像显微镜-激光衍射粒度分布

信息分类:站内新闻   作者:yiyi发布   时间:2016-10-21 17:14:52 将本页加入收藏

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正文:

粒度分布分析图像显微镜-激光衍射粒度分布


    激光衍射装置
              
              
    近年来,出现了好几种基于对细颗粒进行激光衍射的装置。
激光从稀释的悬浮颗粒中穿过,这些悬浮颗粒循环通过一个光学
测定仪。光被悬浮颗粒分散后,用一个能测量一定角度内光强度
的固态探测器进行测定。应用光散射原理可以从光分布结构中计
算出颗粒粒度分布,细颗粒比粗颗粒的散射作用强。早期装置应
用的是弗朗霍夫(Fraunhofer)理论,这个理论适于约1 ~2000
μm 粒级范围,限制上限主要是受机械方面的约束。最近,运用
米氏理论已经将可用粒度下限降到了0.1 μm ,甚至更低。一些
现代化装置可提供这两种选择,或者将这两种理论结合到一起,
以涵盖更宽的粒级。
              
    激光衍射装置操作简单,分析结果得出快,有重现性。但是,
光散射理论并没有给出和其他方法(如筛分法)兼容的对粒度的
定义。比如在大多数选矿应用中,激光衍射粒度分布就总是比其
他方法得出的粒度粗。奥斯汀和沙阿提出了一种方法,用于激光
衍射法和筛分法得出的粒度曲线之间的转换,通过对特征一致的
物料进行回归分析可以得出一个简单的转化。此外,这个结果还
取决于固体颗粒和液体介质(虽然不一定,但通常是水)的相对
折射率,甚至还和颗粒形状有关。大多数装置都要求能补偿这些
效应,或者提供校准数据给用户。
              
    因为这些原因,使用激光衍射粒度分析仪应该慎重。对于对
固定环境中唯一改变的粒度分布做大批量的常规分析,这个设备
大概没有同行。针对不同环境或不同物料,或与其他方法得到的
数据进行比较时,解释数据时要谨慎。当然这些装置是不提供分
级后的样品供后续分析的。











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