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正文:
白光干涉(wu)光学轮廓仪使用宽带光源照明,其工作形式类似
于一个光学聚焦传感器阵列,每个传感器上接收到的干涉信号的位
置决定了最佳的聚焦位置。使用宽带照明克服了在单波长甚至是多
波长技术中存在的局限性。WLI方法由于在MEMS元件、二元光学元
件及机械加工表面等工程表面
测量中的应用,早巳确立了它在光学
轮廓仪中的领先地位。WLI的垂直分辨力依赖于对信号的分析,它
和单波长PSI方法(0.3nm)几乎一样好,但是通常情况下在3nm附近
。这里垂直分辨力的定义是在光滑样品上测量差值的均方根(RMS)
。白光干涉
在干涉光学轮廓仪中使用的白光光源具有宽带可见光谱,波长
从380~750nm(紫外光到红外光)。由于波长带宽很大这种光源的时
间相干性低,并且不能将其看做点光源,也就意味着它的空间相干
性也很低。光源很低的时间和空间相干性使得所产生的干涉条纹局
限于空间上。
为了在最佳聚焦位置获得干涉条纹,参考镜的位置也需要设置
在物镜的最佳聚焦点。这可以分三个步骤:首先,将参考镜从焦点
处移开几个或者几十个微米;其次,将物镜聚焦在具有一些特征的
检测对象上,比如说锐利而不太高的台阶上(此时还看不见条纹);
出自http://www.bjsgyq.com/
北京显微镜百科